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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR(极高分辨率)SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率
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Prisma E SEM扫描电子显微镜
Thermo Scientific™ Prisma™ E SEM是首台支持一体化ColorSEM技术进行直观元素分析的钨灯丝扫描电子显微镜。Prisma 配置环境真空模式,并可灵活配置,多种配件选项
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SEM 带扫描电镜的高温疲劳试验机
SEM高温疲劳试验机是带扫描电子显微镜的疲劳试验机。用于在疲劳试验过程中动态时实观测样品表面的微观破坏。可进行拉-拉、拉-压、三点弯曲疲劳试验及800℃以下的高温试验。
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牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature
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inLux™ SEM- 拉曼联用接口
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SEM QUANTAX EDS
、Micro-XRF 和 WDS 的无缝集成一款软件中,布鲁克的 ESPRIT 为任何 SEM、FIB 和 EPMA 提供了最全面的分析平台。
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Prisma E SEM-环境扫描钨灯丝电镜
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Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用
Amptek FAST SDD™ C2 窗口针对SEM应用开发Amptek推出全新SDD探测器,针对电子显微镜能谱仪客户应用(EDS SEM)利用全新技术“C”系列X射线窗口(Si3N4),能够对
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雷尼绍扫Renishaw Raman-SEM联用系统
拉曼-电子显微镜联用系统使您能够在单一系统内全面地原位表征样品性能。雷尼绍结构与化学成分分析仪(SCA)接口使(SEM)具有了inVia的拉曼分析能力。inVia和SCA接口提供了一种SEM内的分析
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Prisma E SEM扫描电子显微镜
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2024固相萃取仪中标季度盘点,这一类单位成采购主力军
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