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EQS二次离子质谱探针
EQS 是差式泵式二次离子质谱,可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子。最新技术的SIMS 探针,便于连结到现有的UHV表面科学研究反应室。
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离子淌度差分质谱技术
AB SCIEX公司2011年zei新推出了SelexIONTM 技术。该技术解决了现有同类型仪器设计的不足,保留了串联质谱所有的功能,是首个获得高重现性、耐用性及易用性的离子淌度差分质谱分离
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CAMECA二次离子质谱IMS 7F-GEO
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SELECT SERIES Cyclic IMS环状离子淌度质谱IMS
SELECT SERIES Cyclic IMS将最新的环形离子淌度分离与最先进的高性能飞行时间质谱联用,助力研究人员充分发挥科学发现的巨大潜力。
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离子色谱-质谱联用仪Essentia IC-16-8050
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Agilent 240MS 气相色谱离子阱质谱联用仪
仪器简介:240-MSGC-MS/MS是目前世界上灵敏度最高的3-D离子阱质谱仪;远远超越单级四极杆质谱的灵敏度;也是目前最多专利设计的离子阱质谱仪。其专利的三重共振扫描技术,完全消除分子离子
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布鲁克 timsTOF HT捕集离子淌度质谱
连续分析数千个样品,仪器保持稳定的性能而无需清洁。灵敏度: 第四代 TIMS-XR 的超大离子容量极大提升了分析深度。选择性: 在四极杆和飞行管之前提供额外一维淌度分离,大大提升了峰容量。捕集型离子淌
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布鲁克timsTOF Pro 2 捕集离子淌度质谱
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IONTOF / TOFSIMS 飞行时间二次离子质谱 / TOF-SIMS M6型
,药品和有机组织领域。全新 M6 — — 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)先进科技M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代高端飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS
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Sciex解析质谱谱图数据的 PeakView™软件
处理精确的质谱数据、结构解析和批量分析的PeakView™软件 显示谱峰之间的质量差异生成扣除背景的谱图,合并相关谱图或创建轮廓图
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