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AFM及扫描探针安捷伦
技术参数:大范围高精度扫描探针显微镜 安捷伦5500LS规格: -标准真空夹持台尺寸: 150毫米-样品厚度: 最大35毫米-检测区域: 150mm x 150mm-全电动、光学可控-光学
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AFM及扫描探针SPM-Nanoa岛津
自动观察自动完成光路调整、扫描参数设定、图像处理使用标准样品和标准探针时操作用时5分钟**自动观察模式,扫描范围1um×1um,256×256点阵。操作时长依赖于操作者。传统的原子力显微镜需要
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AFM及扫描探针 安捷伦5500LS
技术参数:大范围高精度扫描探针显微镜安捷伦5500LS规格:-大样品台:标准真空吸盘尺寸:150mm-样品厚度:最大35mm-检测区域:150mmx150mm-全电动控制光学-光学分辨率:2μm
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扫描探针显微镜 型岛津AFM及扫描探针 操作维修手册
扫描探针显微镜 型岛津AFM及扫描探针 操作维修手册针对不同使用环境,有着不同的操作与维护流程,点击查看操作维修手册。 概要本资料是扫描探针显微镜及气氛腔控制 CH-II/III的设置要领。为了保证
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AFM及扫描探针SPM-9700扫描探针显微镜 型 扫描探针显微镜
点击查看下载AFM及扫描探针SPM-9700扫描探针显微镜 型 扫描探针显微镜相关资料,进一步了解产品。 SPM-9700在基本观察功能的基础上融入了更强的测量功能,具备了卓越的信号
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AFM及扫描探针安捷伦 安捷伦5500LS
技术参数:大范围高精度扫描探针显微镜 安捷伦5500LS规格- 样品台标准真空吸盘尺寸:150mm- 样品厚度:最多35mm- 检测区域:150mmx150mm- 全电动控制光学系统- 光学
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AFM及扫描探针牛津仪器
相结合。可扩展性是Matrix控制系统应对未来扫描探针显微技术挑战的关键因素。Matrix控制系统采用功能模块化设计理念,不同的任务集成在单独的数字化电路板上,以满足高性能SPM的要求。通过预留插槽并
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AFM及扫描探针牛津仪器
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AFM及扫描探针 原子力显微镜岛津
自动观察自动完成光路调整、扫描参数设定、图像处理 使用标准样品和标准探针时,自动观察模式操作只需5分钟。扫描范围为1um×1um,256×256点阵。操作时长取决于操作者。传统的原子力显微镜需要
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CrossLab 多厂商仪器服务
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