-
芯硅谷 数显测厚表
-
电解测厚仪(DJH-G)
◆库仑法测厚。 ◆测量范围:0~35μm(厚度超过35μm,误差会逐渐变大)。 ◆测试误差:≤10%。 ◆分辨率:金、装饰铬0.01μm;其他0.1μm。 ◆测量zei小面积
-
芯硅谷 D6228 机械百分测厚表
-
FH 40G系列 便携式多功能辐射巡测仪
仪器简介:FH 40G 系列便携式辐射测量仪有多种不同用途的α,β,γ,X与中子的综合测量功能,结合种类齐全的外部智能化探头和功能强大的操作软件,满足各领域的zei高要求,得到了广泛应用。特色技术
-
FH 40G系列 便携式多功能辐射巡测仪
仪器简介:FH 40G 系列便携式辐射测量仪有多种不同用途的α,β,γ,X与中子的综合测量功能,结合种类齐全的外部智能化探头和功能强大的操作软件,满足各领域的zei高要求,得到了广泛应用。特色技术
-
DJH Designs 膜厚仪
DJH Designs 膜厚仪DJH Designs 系统属性DJH Designs 膜厚度测试系统从使用简单出发结合功能与准确性为干膜厚度的测量建立了一个新的标准。这个系统是功能化的,它不仅使用
-
DJH显微膜厚仪
仪器简介: DJH 测厚仪为ASTM D5796-95 指定的ASTM 干膜测试标准。质量及设计上的创新非常适合卷涂行业的需求,提供一种较好的解决方案来测定涂层的厚度,在1991
-
厚壁斜两口瓶
-
RadEye G10 便携式γ辐射测量仪
RadEye G-10可测X、γ,有很好的低能量γ响应,可测量医用同位素,Am-241等,抗振动设计,2节AAA电池可持续使用600小时。多种报警方式,可用耳机输出。符合北约标准NATO及美国
-
芯硅谷 H3583 厚壁耐压瓶
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net