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芯硅谷 数显测厚表
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F54-XYT-300薄膜厚度测量仪
使用。图案表面的显微测量F54-XYT-300具有集成的显微镜和实时摄像头,可以精确监控膜厚测量点。小尺寸的测量光斑允许测量有图案的样品,并且可以改善在较粗糙的材料上的测量性能。FILMAPPER软件
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Xper WLI 白光干涉仪
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器
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芯硅谷 D6228 机械百分测厚表
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白光干涉三维形貌测量系统
SuperViewW白光干涉三维形貌测量系统集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。
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白光干涉三维光学轮廓仪
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德国应用光谱白光干涉膜厚仪
发射信号可连接到几乎每个真空室无需维护舒适和易于使用的PEM—ProVis专业版软件用于全球主要的汽车灯以及CD生产商进行有机膜厚测试
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中图白光干涉三维轮廓仪
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F54 薄膜厚度测量仪
F54薄膜厚度测量仪自动化薄膜测绘 Filmetrics F54 系列的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达
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膜厚测量仪FE-300
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价,精度高无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手外观新颖,操作性提高非线性*小二乘法,实现光学常数解析(n:折射率
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