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梅特勒托利多 电子天平JP16001G
电子天平JP16001G大量程天平经久耐用。.准确称量大重量产品: 量程16200 g,可读性0.1 g,大秤台,强大的过载保护,FACT(全自动内部校正),全金属外壳十分适合重负载JP天平非常坚固
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梅特勒托利多 电子天平JP32001G
电子天平JP32001G大量程天平经久耐用。.准确称量大重量产品: 量程32200 g,可读性0.1 g,大秤台,强大的过载保护,FACT(全自动内部校正),全金属外壳十分适合重负载JP天平非常坚固
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Agilent 8355 硫化学发光检测器
重新构想和设计的 Agilent 8355 SCD 标志着硫化学发光检测技术 25 年来的第一次重大改进,使这项技术更加可靠且更易于使用。
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Agilent 8255 氮化学发光检测器 (NCD)
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硫化学发光检测系统Nexis SCD-2030
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JP500高精度X射线荧光元素分析仪
。 检出限JP500 是一种单色能量色散X射线荧光分析仪,利用优越的信噪比(S/B)实现超低的元素检出限。 技术参数测量范围:Cd, Ni, Cu, Zn, As, Pb等测量时间
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化学发光成像系统 JP-K300
详情介绍:JP-K300化学发光成像系统使用范围介绍:化学发光成像系统适用于化学发光、多色荧光检测与普通凝胶检测,选用了高分辨率低照度进口制冷CCD,并上乘结合大光圈电动镜头,可捕获到极微弱的荧光
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化学发光成像系统JP-K900
定位样品载物升降平台,并可通过电脑进行无级定位控制用户可自行设定定时自动关闭光源时间(0-60分钟)JP-K900化学发光成像系统技术参数:CCD芯片Sony ICX695,4/3英寸,2750
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化学发光成像系统JP-K900
定位样品载物升降平台,并可通过电脑进行无级定位控制用户可自行设定定时自动关闭光源时间(0-60分钟) JP-K900化学发光成像系统技术参数:CCD芯片Sony ICX695,4/3英寸,2750
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化学发光成像系统JP-K300
详情介绍:JP-K300化学发光成像系统使用范围介绍:化学发光成像系统适用于化学发光、多色荧光检测与普通凝胶检测,选用了高分辨率低照度进口制冷CCD,并上乘结合大光圈电动镜头,可捕获到极微弱的荧光
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