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KLA-Tencor Profiler探针式台阶仪-台阶仪精度
仪器简介:应用: ◆薄膜厚度测量; ◆样品表面形貌测量; ◆薄膜应力测量; ◆样品表面粗糙度/波纹度测量; ◆样品表面三维形貌测量等。技术参数:KLA-Tencor先进的探针式台阶
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KLA 纳米力学测试仪iMicro
测试期间或之后进行数据分析的 InView ReviewData,和生成各种综合性测试报告的 InFocus 软件。连续刚度测量(CSM)压入循环期间测量刚度和其他材料特性KLA的连续刚度测量技术能够
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KLA 纳米力学测试仪iNano
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KLA-Tencor Candela CS10/CS20 表面缺陷检测设备
仪器简介:应用: ◆ 硅片、化合物、半导体及透明材质产品表面缺陷的检查分析。技术参数:KLA-Tencor Candela CS10表面缺陷检测设备是针对半导体行业的表面缺陷的检查
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KLA台阶仪 D-300 探针式 表面轮廓仪
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KLA-Tencor Candela CS10/CS20 表面缺陷检测设备-表面缺陷检测设备 南昌
仪器简介:应用: ◆ 硅片、化合物、半导体及透明材质产品表面缺陷的检查分析。技术参数:KLA-Tencor Candela CS10表面缺陷检测设备是针对半导体行业的表面缺陷的检查分析仪器。该
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其他试验机
液涨式温控器耐久性试验装置满足GB14536.10-2008/IEC60730-2-9:2004等标准要求设计制造,可对冰箱、饮水机、冷柜等家用电器上的液涨式温控器寿命及PTC热敏电阻温度/动作相应时
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K-T G200/inSEM/iMicro/Nano 纳米压痕划
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台阶仪
仪器简介:KLA Tencor是世界上zei著名的微电子和半导体领域设备供应商。目前年营业收入约为15亿美元,全球雇员5000多人。 KLA Tencor公司是KLA
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KLA-Tencor INM100显微镜
、DIC及365nm UV成像等)可用于不同材料特性的分析; ◆zei大样片尺寸可达8英寸,分辨率达0.13um; ◆先进的检测方式可用于硅片、光罩和其他材料的失效分析及工艺控制。 主要特点
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