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LCD/OLED缺陷自动光学检测系统
各种测试的影响分析函数。因此,该系统可针对各种显示屏缺陷 (例如点缺陷、线缺陷和 Mura)提供量化自动检测。 实施的部分测试包括:图 1. FPD AOI 测试设置,影像亮度色度计处在自动软件控制下
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OLED柔性发光屏拉伸弯折扭曲及光学测试系统
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OLED 残影测试系统
是一套卓立汉光专门针对OLED 屏幕短期残影的表征系统,采用高灵敏度的快速亮度计,实现高效表征屏幕的残影现象;主要功能• 短期残影测试;• 亮度均匀性测试;• 屏幕长期稳定性测试软件界面
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OLED/QLED发光器件寿命测试系统
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光学表面缺陷分析仪
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PGI Matrix 高速全自动高精密光学测量系统
简易的程序设置。 快速实用的分析工具能够帮助定位调整和提高测量速度, 大大缩短了自动测量周期。 先进的非球面分析软件(AAU)对形状误差、半径、斜率误差和环带深度进行即时分析, 保证光学质量并节省时间
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OLED 电学/光学/老化 综合检测系统
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LCD\OLED 激光修补模组
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光学镜头光谱透过率检测系统
光学镜头光谱透过率检测系统 ■ 该系统测量光学镜头的光谱透过率(光学镜头透过率>10%) ■ 可测镜头口径:Φ8~Φ150mm(通过光阑变化选择),zei大
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LCD/OLED缺陷自动光学检测系统
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