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PPMS专用低温强磁场SPM系统
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安捷伦5500AFM/SPM
技术参数: 技术参数 1. Humidity control From 0 to 99% 湿度控制: 0 to 99% 2. Data length 16
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SPM300系列半导体参数测试仪
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SPM600系列半导体参数分析仪
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑
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SPM-9700HT粒度分析软件(选配)
粒度分析软件(选配)颗粒分析软件是在SPM-9700HT的图像数据中选取颗粒,针对每个颗粒计算其特征量,同时进行分析、显示以及统计时使用的软件。能够对以下丰富的特征量和计算出的各特征量的统计数据进行
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SPM-Nanoa 原子力显微镜
原子力显微镜需要人工调整光路、设定扫描参数、进行图像处理。但是SPM-Nanoa可以帮助用户毫无压力地完成这些操作性能优异从光学显微镜到SPM/AFM,各模式下均可清晰地捕捉图像利用光学显微镜搜索目标
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卓立汉光SPM600系列半导体参数分析仪
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑,实现百微米级探测器
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卓立汉光SPM300系列半导体参数分析仪
光谱仪, 1*10-5 杂散光抑制比SPM300系列半导体参数分析仪主要应用SPM300系列半导体参数分析仪选型表型号描述SPM300-mini基础款半导体参数分析仪,只含一路532nm 激光器,常规
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卓立汉光半导体参数分析仪SPM600系列
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑,实现百微米级探测器
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SPM-9700HT扫描探针显微镜
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