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四探针方阻电阻率测试仪
四探针电阻率/方阻测试仪,测量表面电阻,四探针电阻率/方阻测试仪 本机范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,四探针电阻率/方阻测试仪
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双电四探针方阻电阻率测试仪
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瑞柯微 手持式四探针方阻测试仪
FT-394系列手持式四探针方阻测试仪、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》,
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瑞柯微 普通四探针方阻电阻率测试仪
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瑞柯微 FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪
利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,适用于斜置式四探针对于微区的测试。
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瑞柯微 低阻双电四探针测试仪
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四探针 方阻仪 方阻计
FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T
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RTS-3型手持式四探针测试仪
使用100小时; RTS-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及
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RTS-4型四探针测试仪
仪器简介:RTS-4型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及
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RTS-8型四探针测试仪
仪器简介: RTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料
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