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Rtec-共聚焦三维表面轮廓仪
特点共聚焦三维表面轮廓仪具有光学形貌上超高的横向分辨率,附有5百万自动分辨率的CCD相机, 空间下样可调至0.05um,是表面特征以及形貌的测量的理想配置。技术参数项 目 简 述参数说明共聚焦三维
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三维光学轮廓仪ContourSP
。不匹配精度凭借其新的耐振系统设计和专利的Wyko垂直扫描干涉术(VSI)成像,具有量规能力的Contracesp系统以纳米分辨率执行极其精确的三维临界尺寸(CD)测量。这种能力,加上广泛的自动化,使
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三维光学轮廓仪NPFLEX
NPFLEX三维计量系统为骨科医学植入物等大样本以及航空航天、汽车和精密机械加工行业中的较大部件提供了最灵活、最不接触、最三维的表面特征。它提供了数据密度、分辨率和重复性,超出了接触式仪器的可能
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纳米表面轮廓仪
纳米表面轮廓仪 纳米表面轮廓仪IMOS纳米表面轮廓仪实现了精确、定量、iso兼容、非接触式表面测量和表征微和纳米尺度的表面特征,在短短几秒钟内可捕获多达200万
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白光干涉三维光学轮廓仪
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Bruker三维光学表面轮廓仪-ContourGT-K
技术白光干涉仪(WLI)硬件和前所未有的操作简易性,是历年来来zui先进的3D光学表面轮廓仪系统。该系统拥有超大视野内亚埃级至毫米级的垂直计量范围,样品安装灵活,且具有业界zui高的测量重复性
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三维光学轮廓仪HD 9800+
HD 9800+3D大格式表面轮廓系统是世界上最先进的用于在线数据存储滑块计量学的光学轮廓仪。该系统将可测量光学表征技术与先进的自动化技术相结合,使PTR和平坦度测量性能得到优化。HD
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三维光学轮廓仪CONTEBGT-X
立体式三维光学剖面仪为实验室研究和生产过程控制提供了最高性能的非接触表面测量。结合十代白光干涉测量(WLI)的创新和设计,这一计量系统提供了最高的垂直分辨率超过该行业的最大视野。主要功能包括完全
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三维光学轮廓仪Contracx-200
Contracx-200光学轮廓仪提供了先进的特性,可定制的选择完美的混合,并易于使用的最佳级别,快速,准确,可重复的非接触式三维表面计量。该量具能力,小足迹系统提供了不妥协的2D/3D高分辨率测量
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中图白光干涉三维轮廓仪
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