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SGC-1A椭圆偏振测厚仪
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SGC-2自动椭圆偏振测厚仪
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SGC-10薄膜测厚仪
产品简介:SGC-10薄膜测厚仪,适用于介质,半导体,薄膜滤波器和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪,是与美国new-span公司合作研制的,采用new-span公司先进的薄膜测厚技术,基于
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在线镀层测厚仪
仪器简介:不论是在国外还是国内,赛默飞世尔(Thermofisher)公司的测厚仪市场占有率始终遥遥领先。RM310系列镀层重量测厚仪凭借其出色的设计,先进的射线荧光技术,精确的测量,极高的稳定
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椭圆偏振测厚仪
:布儒斯特角法测介质膜的折射率,干涉法测膜厚,其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度高、精度高、非破坏性测量等优点,因而,椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物
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热轧在线测厚仪
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自动椭圆偏振测厚仪
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手动椭圆偏振测厚仪
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自动椭圆偏振测厚仪
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自动椭圆偏振测厚仪
仪器简介:产品特点: 仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器,功率稳定波长精度高。 仪器采用USB接口与电脑连接,配套
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