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X-射线荧光镀层厚度测试仪XDLM系列
FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。
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X荧光镀层测厚仪
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X荧光镀层测厚仪 Thick 600
。 Think600镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便
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菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量超薄镀层和微含量而设计,是用于质量控制,质量检验和生产监控的最合适的测量仪器。
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X荧光镀层测厚仪 Thick 800A
Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。
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菲希尔XDLM-PCB系列 X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是专为测量印制电路板上镀层厚度及成分分析而设计的入门级、耐用型测量仪。
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X-射线荧光镀层厚度测试仪XUL系列
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ARL Optim’X 波长色散X射线荧光光谱仪
多达73个元素的无标样分析4. 工厂采用一系列参考样品精心调校该系列仪器,并可以在现场使用用户自己的标样进行最佳化,以提供精确、可靠的解决方案 5. 超薄窗X射线管,具有理想的分析灵敏度 6. 光谱室
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ARL Optim’X波长色散X射线荧光光谱仪
样品精心调校该系列仪器,并可以在现场使用用户自己的标样进行最佳化,以提供精确、可靠的解决方案 5. 超薄窗X射线管,具有理想的分析灵敏度 6. 光谱室和晶体的双重恒温控制系统,保证了仪器杰出的稳定性和
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ARL 9900 X射线荧光光谱仪
集成 XRD 功能的 Thermo Scientific ARL 9900 XRF 系列是一款高效的多功能 X 射线分析系统,兼具 XRF 和 XRD 技术,用于过程控制。ARL 9900 能够满足
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