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X-射线荧光镀层厚度测试仪XDVM-u
新型号的FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-µ是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。
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XDVM-W X-射线荧光镀层厚度测试仪
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X荧光镀层测厚仪
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X荧光镀层测厚仪 Thick 600
。 Think600镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便
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X荧光镀层测厚仪 Thick 800A
Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。
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ARL Optim’X波长色散X射线荧光光谱仪
支持。技术参数:分析元素:F~U含量范围:ppm~100% 端窗型X光管,铍窗厚度75mm,50W的功率激发相当于200W 光谱室真空恒温控制,晶体有独立的温控系统,确保分析的稳定性和可靠性 无需外
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ARL Optim’X 波长色散X射线荧光光谱仪
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ARL 9900 X射线荧光光谱仪
集成 XRD 功能的 Thermo Scientific ARL 9900 XRF 系列是一款高效的多功能 X 射线分析系统,兼具 XRF 和 XRD 技术,用于过程控制。ARL 9900 能够满足
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天瑞仪器X荧光镀层测厚仪Thick800A
保护技术指标型号:Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀(U)。同时可以分析30种以上元素,五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)任意多个
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天瑞仪器 金属镀层的厚度测量 X荧光镀层测厚仪 Thick 800A
Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。
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