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XTC/3薄膜镀层控制仪
简介先进,实用的单层和多层镀膜速率控制用于单层和多层镀膜工艺的薄膜镀层控制仪XTC/3装备有ModeLock1专利技术,提供验证的模式跳跃防止功能,可达到始终如一的镀膜质量. 使用XTC/3薄膜镀层
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在线镀层测厚仪
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芯硅谷 PVC薄膜
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薄膜,片材在线测厚仪
仪器简介:热电瑞美公司RM200在线测量和控制系统是专门设计应用于薄膜生产线,可以在线测量薄膜的厚度,并反馈信号自动控制模头螺栓,使薄膜厚度均匀,提高产品质量,降低原材料消耗。热电瑞美公司在上海建有
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X荧光镀层测厚仪
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计算机控制薄膜电弱点测试仪
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微机控制电容器薄膜电弱点测定仪
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Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪
F3-sX 系列薄膜厚度测量仪满足薄膜厚度范围从15nm到3mm的先进厚度测试系统 F3-sX家族利用光谱反射原理,可以测试众多半导体及电解层的厚度,可测大厚度达3毫米。此类厚膜,相较于较
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微机控制电气绝缘用薄膜电弱点测定仪
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X荧光镀层测厚仪 Thick 600
。 Think600镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便
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