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优可测白光干涉仪-三维形貌测量
白光干涉仪AM7000系列搭配大量程高速纳米压电陶瓷器件,精度高达亚纳米级,3200Hz加以SST+GAT算法,可瞬间完成500万点云采集,在线检测快至1秒,可测粗糙度、台阶、轮廓、三维形貌等。
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白光干涉三维形貌测量系统
SuperViewW白光干涉三维形貌测量系统集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。
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优可测白光干涉仪-台阶测量
白光干涉仪AM-7000系列搭配大量程高速纳米压电陶瓷器件,精度高达亚纳米级,3200Hz加以SST+GAT算法,可瞬间完成500万点云采集,在线检测快至1秒,可测粗糙度、台阶、轮廓、三维形貌等。
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Solarius Viking三维形貌白光干涉仪
快速生成三维表面形貌。直观和易于操作的系统软件是VIKING测量系统的另一个关键特点: 新的操作员只需花费很短的时间来熟悉软件就可以在短时间内执行更多的测量。一旦建立并保存模板后, 测量和数据分析过程
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优可测白光干涉仪-粗糙度检测
白光干涉仪AM-7000系列搭配大量程高速纳米压电陶瓷器件,精度高达亚纳米级,3200Hz加以SST+GAT算法,可瞬间完成500万点云采集,在线检测快至1秒,可测粗糙度、台阶、轮廓、三维形貌等。
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优可测衍射三维形貌仪
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Xper WLI 白光干涉仪
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器
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WIVS-Ⅲ型白光干涉三维轮廓测量仪
一、用途 (1)二、三维表面形貌测量 (2)膜厚和台阶测量 (3)刻线和沟槽尺寸测量 (4)任意曲面形貌测量 (5)球面和非球面轮廓非接触测量 (6)MEMS器件三维尺寸测量
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Bruker三维光学显微镜(白光干涉仪)
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白光干涉三维光学轮廓仪
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