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优可测白光干涉仪-粗糙度检测
白光干涉仪AM-7000系列搭配大量程高速纳米压电陶瓷器件,精度高达亚纳米级,3200Hz加以SST+GAT算法,可瞬间完成500万点云采集,在线检测快至1秒,可测粗糙度、台阶、轮廓、三维形貌等。
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优可测白光干涉仪-台阶测量
白光干涉仪AM-7000系列搭配大量程高速纳米压电陶瓷器件,精度高达亚纳米级,3200Hz加以SST+GAT算法,可瞬间完成500万点云采集,在线检测快至1秒,可测粗糙度、台阶、轮廓、三维形貌等。
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Xper WLI 白光干涉仪
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器
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优可测白光干涉仪-三维形貌测量
白光干涉仪AM7000系列搭配大量程高速纳米压电陶瓷器件,精度高达亚纳米级,3200Hz加以SST+GAT算法,可瞬间完成500万点云采集,在线检测快至1秒,可测粗糙度、台阶、轮廓、三维形貌等。
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OLS41003D测量激光显微镜
XY测量 ○ 在XY平面精确测量亚微米级的距离 干涉仪是基于普通白光的光学显微镜,它的平面分辨率不高。而LSM通过采用更大数值孔径的物镜和更小波长的光波,极大地提高了平面分辨率
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白光干涉仪
控制的使用。这款白光干涉仪通过其快速、准确的检测,提供最优条件产生有意义的尺度来确保产品和流程的质量。 延伸款白光干涉仪技术参数 • 花岗岩台和花岗岩柱 • 手控台XY(226 x232mm ,可移位
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白光干涉仪
仪器简介: 德国FRT测量系统(白光干涉仪)应用于所有类型的表面测量分析。采用一个或多个传感器高精密地测量轮廓,表面粗糙度,平面度、平行度以及形貌特征和薄膜厚度等。适合
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岛津傅里叶变换红外光谱仪IRTracer-100
IRTracer-100提升干涉仪、检测器性能,使SN比高达 60,000:1,实现领先本档次仪器的高灵敏度,同时支持高速反应跟踪。 与操作性能得以提高的
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动态干涉仪Kaleo-Multiwave
波差;Kaleo-Multiwave 多色动态干涉仪可用于光学元件面型检测、透过波差测试、大型望远镜系统测试及实时调整等。大动态范围像差测试能力使其可测平面/ 球面波而无需中继镜,无色差检测
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WLI Lab 白光干涉仪
WLI测量系统是为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度、微观结构和其它表面参数而设计,可满足电子、汽车、制造工业的使用需求。扩展的显微镜模式能使用户获得具有以下特点的
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