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偏振相关损耗测量仪PDL-201
搜索技术,通用光电公司的PDL测量仪能在30 ms内,同时测量待测器件的偏振相关损耗(PDL),插入损耗(IL)和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同,PolaCHEXTM
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偏振相关损耗测试仪PDL-201
采用专利最大最小搜索技术,PDL测试仪能在30ms内,同时测量待测器件的偏振相关损耗(PDL),插入损耗(IL)和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。
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偏振相关损耗仿真器PDLE-101
和100 Gb/s数据传输,必须有严格的PDL容忍度指标。另外,相干探测接收器PDL 抑制算法中的PDL跟踪速度和响应时间必须量化。PDLE-101是专为这样的PDL相关测试设计的,并且可在0~20
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多通道功率计MPM-210
高精度,高线性度,极低偏振依赖。可测量1250~1650nm 范围内-80~ +10dBm 的光功率,提供GPIB、RS232、TCP/IP 通讯介面MPM-210 为插入损耗(IL)、偏振依赖损耗
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椭圆偏振光测量仪FE5000
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超宽带偏振态测量仪
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超宽带偏振态测量仪
超宽带偏振态测量仪 超宽带偏振态测量仪美国Meadowlark Optics公司在精密偏振控制和测量方面一直保持长期优势和信誉,超宽带偏振测量仪(Broad W
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低损耗 IBS 镀膜激光偏振器
低损耗 IBS 镀膜激光偏振器Ø1064nm Nd:YAG 设计波长Ø在 45° AOI 具有 10,000:1 的高消光比Ø低损耗离子束溅射 (IBS) 镀膜Ø采用 10-5 表面质量的 UV
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光学仪器计量
色度仪42光谱光度计标准滤光器43黑白密度片44激光衰减器45激光功率计46激光能量计47角膜接触镜检测仪48光缆普查仪49光纤识别仪50偏振依赖损耗测试仪/偏振相关损耗测试仪/PDL测试仪51工业
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小尺寸宽带偏振态测量仪
小尺寸宽带偏振态测量仪 高速率微型偏振测量仪PolSNAP是一款紧凑的偏振测量仪,来自Hinds Instruments;公 司,数据采集速率为每秒2000个样
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