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光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪
NANOMAP D光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门
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光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪
美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。
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三维光学轮廓仪ContourSP
结合了十多年的包装光学特性专门知识,CONTESSP大型面板计量系统使高密度互连PCB(HDI-PCB)基板的测量吞吐量比上一代WLI仪器提高了一倍以上。该系统专门设计用于测量制造过程中PCB面板的
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三维光学轮廓仪NPFLEX
特征。一个突破性的开放式龙门设计提供了超过300度的访问,以前无法访问或太难分析,因为大小或部分的方向。目标下方有13英寸(330毫米)的空间,很容易到达其他类型的轮廓仪无法到达的部分区域。自定义配置
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白光干涉三维光学轮廓仪
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三维光学轮廓仪HD 9800+
HD 9800+3D大格式表面轮廓系统是世界上最先进的用于在线数据存储滑块计量学的光学轮廓仪。该系统将可测量光学表征技术与先进的自动化技术相结合,使PTR和平坦度测量性能得到优化。HD
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三维光学轮廓仪CONTEBGT-X
立体式三维光学剖面仪为实验室研究和生产过程控制提供了最高性能的非接触表面测量。结合十代白光干涉测量(WLI)的创新和设计,这一计量系统提供了最高的垂直分辨率超过该行业的最大视野。主要功能包括完全
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三维光学轮廓仪Contour Elite X
完全自动化Contour Elite X三维光学剖面仪结合了无与伦比的测量能力,在业界最大的视野和高保真度彩色或单色成像的最高垂直分辨率。没有任何其他计量系统提供非接触式精度、吞吐量、操作
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三维光学轮廓仪Contracx-200
Contracx-200光学轮廓仪提供了先进的特性,可定制的选择完美的混合,并易于使用的最佳级别,快速,准确,可重复的非接触式三维表面计量。该量具能力,小足迹系统提供了不妥协的2D/3D高分辨率测量
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三维光学轮廓仪Contracx-100
Contracex-100型光学轮廓仪在最佳价格点上为精确和可重复的非接触式表面计量设置了一个新的基准。小足迹系统提供不妥协的2D/3D高分辨率测量功能,在一个流线型封装,融合了几十年的专利布鲁克
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