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膜厚测量仪FE-300
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价,精度高无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手外观新颖,操作性提高非线性*小二乘法,实现光学常数解析(n:折射率
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大塚电子膜厚仪FE-300
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膜厚测量仪FE-3
膜厚量测仪FE-3的特点使用分光干涉法原理配置高精度FFT膜厚分析引擎(专利 第4834847号)可通过光纤灵活构筑测量系统可嵌入各种制造设备可实时测量膜厚支持远程遥控,多点测量采用长使用寿命,高
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反射式膜厚测量仪FE-3000
反射式膜厚量测仪的产品特点完美对应紫外到近红外(190~1600nm)广波长范围。利用高分辨率传感器,可对应厚膜以及超厚膜样品类型:0.8~1mm利用非线性*小二乘法薄膜解析软件,可解析多层薄膜的膜
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大塚电子显微分光膜厚仪OPTM
显微分光膜厚仪OPTM SERIESOPTM显微分光膜厚仪是FE-3000反射分光膜厚计的第二代产品。OPTM沿用分光干涉法,可测量绝对反射率、多层膜厚、折射率和消光系数,纳米级测量,精度高
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大塚电子非接触式光学膜厚仪AT-5000
非接触式光学膜厚仪AT-5000本设备操作简单,放置样品即可测量的。一步到位。缩短检查工程,无标准曲线,精度高,分辨率高,轻松测量样品的绝对厚度。光学方式为大冢电子独创,不仅外形小巧,无论透明?粗糙
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大塚电子椭偏仪FE-5000
Δ)·提供膜厚管理膜质管理有用的信息通过400ch以上的多通道光谱法,迅速测量椭圆光谱·可实现一分钟以内的高速测量·光谱点多,所以坡度大的椭圆光谱也可正确测量利用多波长光谱仪实现高精度高感度测量测量
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显微分光膜厚仪
OPTM 系列显微分光膜厚仪头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数)1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)区域传感器的安全机制易于
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OPTM 半导体膜厚测试仪
item· 绝对反射率测量· 膜厚解析· 光学常数解析(n:折射率、k:消光系数)构成图半导体膜厚测试仪OPTM 式样Specifications※ 上述式样是带有自动XY平台。※ release
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F50 光学膜厚测量仪
需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:选择Filmetrics的优势• 桌面式薄膜厚度测量的全球
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