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牛津仪器Asylum Research Cypher原子力显微镜 微区导电性能特性测量
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BRIGHT KAS-2000F 离子溅射仪 导电性不理想的样品观测
KAS-2000F离子溅射是布莱特公司针对SEM/TEM开发出的zei新产品,它可以对不导电样品进行喷镀,使导电性不理想的样品也能够在SEM/TEM中进行观测。
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BRIGHT KAS-2000F 离子溅射仪
KAS-2000F离子溅射是布莱特公司针对SEM/TEM开发出的zei新产品,它可以对不导电样品进行喷镀,使导电性不理想的样品也能够在SEM/TEM中进行观测。
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瑞柯微 普通四探针方阻电阻率测试仪
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帕克 NX20 原子力显微镜Park NX20Park原子力显微镜 适用于薄膜导电性
Park原子力显微镜帕克 NX20 原子力显微镜Park NX20可用于测定碳纳米管,适用于薄膜导电性 项目。并且参考多项行业标准。可应用于电子/半导体行业领域。 用于故障分析和大型样品研究的领先
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国仪量子 国产场发射扫描电镜 SEM4000Pro
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瑞柯微 四探针测试仪FT-361系列低阻双电
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国仪量子 场发射扫描电镜 SEM4000
的肖特基场发射电子枪。三级磁透镜设计,束流最大可达200 nA,且连续可调,在EDS、EBSD、WDS等应用上具有明显优势。支持低真空模式,可直接观察导电性弱或不导电样品。标配的光学导航
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瑞柯微 粉末电阻率测试仪
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瑞柯微 FT-303B表面和体积电阻率测试仪
ISO1853:1998 《硫化橡胶或热塑性橡胶的导电性能和耗散性能电阻率的测定》;GB2439-2001 《导电和抗静电橡胶电阻率(系数)的测定方法》
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