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SPM900系列少子寿命成像测试仪
SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明 非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数,也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中,少子寿命决定了少子扩散长度, 决定了
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卓立汉光少子寿命成像测试仪SPM900系列
SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数,也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中,少子寿命决定了少子扩散长度, 决定了光吸收层
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卓立汉光激光扫描少子寿命成像测量仪SPM900
测试仪4、6、8 英寸晶圆样品测试,可在此基础上增加小行程电动位移台实现数百纳米至微米尺度的精细扫描显微尺度的少子寿命成像测试仪参数指标 系统性能指标:光谱扫描范围200-900nm*小时
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少子寿命测试仪
WCT-120少子寿命测试仪器采用了独特的测量和分析技术,包括类似平稳状态photoconductance (QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合
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少子寿命测试仪
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少子寿命测试仪
一个典型代表,推出了更为先进,更为靠近光伏行业实际需要的数值的少子寿命测试仪:GLM-2000,特别适合与非自己生产硅材料的太阳能光伏企业:用于更好而又简单的选择来自不同硅料供应商的硅片质量把关
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高频光电导少子寿命测试仪
1:高频光电导少子寿命测试仪/少子寿命测试仪 型号:KDK-LT-1 1、 用途 用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量,除需要有一个测量平面外,对样块体形无严格要求,可测块状和
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Sinton+WCT120+硅片少子寿命测试仪
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Sinton Instruments+BCT400+少子寿命测试仪
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卓立汉光少子寿命成像测试仪SPM900系列 应用于薄膜半导体领域
卓立汉光少子寿命成像测试仪SPM900系列 应用于薄膜半导体领域SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数,也是评价半导体质量的一个指标
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