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探针式轮廓仪/三维形貌仪
的生产制造,是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。NANOMAP 500LS轮廓仪/三维形貌仪技术特点常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的完美结合。双模式操作(针尖
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探针式轮廓仪/三维形貌仪
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KLA台阶仪 D-300 探针式 表面轮廓仪
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Dektak XTL探针式轮廓仪
Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品,为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和
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光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪
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光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪
美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。
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三维形貌轮廓仪
仪器简介:三维形貌轮廓仪有北京德华公司提供详细配置及技术资料 021-61482080-21/11技术参数:型号SPY 型号CF
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非接触式三维轮廓仪、形貌仪
线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。主要特点:◆微观二维(2D)和三维(3D)形貌轮廓获取 ◆多种测量功能 将采样数据运算后,可获得精确定量的面积(空隙率,缺陷
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探针接触式三维轮廓仪
。摆脱了以往只能得到二维信息,或三维信息过于粗糙的现状。将轮廓仪带入了另一个高精度测量的新时代。主要特点:1、常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的完美结合2、双模式操作(针尖扫描和样品台扫描
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三维光学轮廓仪ContourSP
。不匹配精度凭借其新的耐振系统设计和专利的Wyko垂直扫描干涉术(VSI)成像,具有量规能力的Contracesp系统以纳米分辨率执行极其精确的三维临界尺寸(CD)测量。这种能力,加上广泛的自动化,使
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