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JEOL JEM-2800 200kV高通量场发射透射电子显微镜
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JEOL JEM-2200FS 200kV能量过滤场发射透射电镜
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JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜
JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了zei高加速电压为300kV的场发射电子枪(FEG)和镜筒内置式Ω型能量过滤器,能为广泛的研究领域提供各种全新的
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JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜
JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、液氮冷却样品台和12位自动样品
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JEM-F200新概念冷场发射透射电镜
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200kV场发射透射电子显微镜
仪器简介:对材料特性的全面认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在小到埃级尺寸研究各种普通材料和先进材料
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CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻透射电子显微镜
。主机电子枪冷场发射电子枪加速电压300kV, 200kV能量过滤器镜筒内欧米伽能量过滤器附件无孔相位板选配件低加速电压(标准以外的其他加速电压要求,请另行询问)明场STEM探测器暗场STEM探测器
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赛默飞(原FEI)Apreo场发射扫描电子显微镜
Apreo功能最为丰富的高性能 SEMApreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术,可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。Apreo 是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台,而不会降低磁性样品
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日本JEOL场发射电子显微镜JEM-3200FS
JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了最高加速电压为300kV的场发射电子枪(FEG)和镜筒内置式Ω型能量过滤器,能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案。
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日本JEOL场发射透射电子显微镜JEM-F200
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