-
白光干涉测厚仪Delta-NIR
仪器介绍 Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。TF200根据反射回来的干涉光
-
薄膜厚度测量系统Delta白光干涉测厚仪
Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干涉光,用反复校准的算法快速
-
Xper WLI 白光干涉仪
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器
-
白光干涉三维形貌测量系统
SuperViewW白光干涉三维形貌测量系统集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。
-
白光干涉三维光学轮廓仪
-
中图白光干涉三维轮廓仪
-
日立白光干涉显微镜VS1800
-
WIVS-Ⅲ型白光干涉三维轮廓测量仪
)垂直扫描白光干涉干涉(VSI) 四、性能指标(基本配置) (1)垂直测量范围 0~50µm (2)垂直分辨率 1nm (3)测量区域 0.32mm×0.24mm (4)显微镜数值孔径
-
徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统
-
WIVS-II型 垂直扫描白光干涉表面轮廓测量仪
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net