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EDAX EDS TEM Octane
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透射电镜加能谱(TEM+EDS)
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赛默飞最干净的能谱透射电镜Talos F200S TEM
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TEM QUANTAX EDS
TEM、STEM 和 SEM (T-SEM) 中纳米尺度的 EDS 元素面分析清晰的多功能测量装置和细管径几何构型可确保在常规基础上快速可靠的采集 TEM EDS 数据。使用 HyperMap 或谱
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Spectra Ultra S/TEM透射电镜
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赛默飞(原FEI)Metrios DX扫描 / 透射电子显微镜
。Thermo Scientific Dual-X™ EDS 系统独有的能谱仪独有的1.8 srad 立体角成倍增加了成倍增加了Super-X 能谱仪系统上的 X 射线计数计数。自动探针校正器可以在
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布鲁克 , EDS, 能谱仪, SEM, TEM
适合不同电子显微镜极靴类型的的 EDS 细管径设计和优化的EDS,几何构型确保了最优的信号采集角和检出角全面的K、L、M 和N 线系原子数据库,完美匹配低电压分析可定制无窗探测器进一步提高低能端的
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布鲁克 QUANTAX EDS 能谱仪(TEM)
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赛默飞200 kV透射电镜Spectra 200 TEM
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赛默飞(原FEI)Scios 2 DualBeam 透射电镜 TEM
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系统,可为的最广泛类型的样品,包括磁性和不导电材料提供出色的样品制备和三维表征性能。
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