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非晶硅平板探测器
非晶硅X 射线探测器非晶硅(硒)X 射线平板探测器广泛用于高能辐射的应用中。万睿视公司有超过 20 年的经验 , 为全球超过 20000 客户提供标准和定制探测器,广泛应用于医学、兽医
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枝晶评估 Leica Dendrite Expert
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博奥晶典非编码芯片
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TRView X视频非接触式轴向、径向引伸计
仪器简介: AXIMA TOF2TM高灵活性研究级别质谱仪―众蛋白质组学及各种生物/有机样品的高能MS/MS到大分子完整蛋白的分析 真正的高能MS/MS―实验室参考系碰撞能
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梅特勒托利多 GPro 500非吹扫探头
GPro 500非吹扫探头无需吹扫的TDL气体分析仪 该非吹扫探头的工艺适配件具有探头式可调谐二极管激光气体分析仪的所有优点,且无需进行工艺侧吹扫。 它适用于静态、干燥和清洁的气体。测量低速和静
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半导体晶圆微操作、检验设备
产品概述 说明:此系统是卓立汉光推出的针对半导体晶圆进行微操作、检验的通用开发平台。系统中包括:半导体晶圆装夹单元、半导体晶圆对位单元、机器视觉单元和微操作机械手单元,配套有完整的运动控制系统和机器
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废气非甲烷总烃连续监测系统
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Gatan MICROTEST 2000E系列原位动态拉伸试验台 其他(非晶)材料研究
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A36双晶64晶片线性探头
在近期发布了全新A36双晶64晶片线性探头。全新A36双晶64晶片线性探头的推出,将在大壁厚情形下,协助塑造更为优质的焊缝检测解决方案。更强穿透力A36双晶64晶片线性探头通过将通道数量加倍,进而
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硅晶圆检测仪SIT-200
密度,从而提高了测量的动态范围,因此,SIT-200 支持非抛光的晶圆测量,例如在湿刻过程中以及湿刻之后的晶圆。• 全光学,非接触式晶圆厚度传感• 高动态范围,可测量不规则表面• 支持湿刻制程中
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