透射电子显微镜(透射电镜、TEM)
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赛默飞世尔Spectra S/TEM透射电子显微镜
赛默飞
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赛默飞Meridian EX Semiconductor半导体故障隔离系统
赛默飞(原FEI)
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国产场发射透射电子显微镜 TH-F120
国仪量子
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牛津仪器AZtecTEM软件
牛津仪器
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TESCAN 4D-STEM TENSOR
泰思肯
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CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻透射电子显微镜
文明机电
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JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射电镜
日本电子
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赛默飞(原FEI)Talos F200C TEM透射电镜
欧波同
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CAMECA 三维原子探针 Leap 5000
CAMECA SAS
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新一代低电压透射电子显微镜-LVEM 25E
Quantum Design中国子公司
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高分辨场热发射台式扫描电子显微镜 Sigma 300
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Scios DualBeam 电子显微镜
FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统,能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性,非常适于学院、政府
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Themis透射电子显微镜
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Talos透射电子显微镜
Talos先进科技集于一身 Talos™ 是新一代 TEM 产品,致力于让用户迅速访问二维和三维数据,从而专注于研究发现。Talos 的配置适合开展材料研究和生命科学研究,是一款融合了众多创新技术的
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Helios DualBeam™扫描电子显微镜
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Tecnai™ 透射电子显微镜
TecnaiFEI Tecnai™ 透射电子显微镜 (TEM) 旨在为生命科学、材料科学、纳米技术以及半导体和数据存储行业提供真正的通用成像和分析解决方案。Tecnai G2 系列将现代技术与科学界
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“Quanta 系列”环境电子显微镜
技术参数:1.分辨率: 二次电子: 高真空模式 3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV 高真空减速模式 7nm @ 3kV (可选项) 低真空模式 3.0nm @ 30kV, 10nm
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Prisma E SEM扫描电子显微镜
Thermo Scientific™ Prisma™ E SEM是首台支持一体化ColorSEM技术进行直观元素分析的钨灯丝扫描电子显微镜。Prisma 配置环境真空模式,并可灵活配置,多种配件选项
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120kV透射电子显微镜
仪器简介:Tecnai G2透射电子显微镜是FEI生产的新型、性能优越的艺术级仪器。Tecnai G2运行在Windows XP的操作系统下,提供了高性能和多功能, 用户在使用方便、个性化和安全环境
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200kV场发射透射电子显微镜
仪器简介:对材料特性的全面认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在小到埃级尺寸研究各种普通材料和先进材料
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10部门发文支持境外投资科技型企业 鼓励向仪器领域设立基金
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