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薄膜，片材在线测厚仪
仪器简介：热电瑞美公司RM200在线测量和控制系统是专门设计应用于薄膜生产线，可以在线测量薄膜的厚度，并反馈信号自动控制模头螺栓，使薄膜厚度均匀，提高产品质量，降低原材料消耗。热电瑞美公司在上海建有
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SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载SAXSess mc^2安东帕小角X-射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料，进一步了解产品。 目前，在未来能量转换和存储体系中，对介孔材料薄膜进行了广泛的
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安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料，进一步了解产品。 目前，在未来能量转换和存储体系中，对介孔材料薄膜进行了广泛的研究
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实验室光束线装置安东帕X射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载 实验室光束线装置安东帕X射线散射仪 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料，进一步了解产品。 目前，在未来能量转换和存储体系中，对介孔材料薄膜进行了广泛的研究。由于这些
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Zeta电位DelsaNano C薄膜Zeta电位分布分析仪 可检测固体及薄膜
贝克曼库尔特Zeta电位DelsaNano C用于测定固体及薄膜，符合行业标准。适用Zeta电位分析项目。 贝克曼库尔特公司的 固体及薄膜表面Zeta电位分析仪，型号：DelsaNano C
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薄膜分布分析仪贝克曼库尔特DelsaNano C 固体及薄膜表面分析仪
点击查看下载薄膜分布分析仪贝克曼库尔特DelsaNano C 固体及薄膜表面分析仪相关资料，进一步了解产品。 贝克曼库尔特公司的 固体及薄膜表面Zeta电位分析仪，型号：DelsaNano C
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Agilent PCG-750 皮拉尼电容薄膜规管
Agilent PCG-750 规管将皮拉尼和陶瓷电容薄膜规管一体化，具备气体类型单独测量的特点，并提高了从大气压到 5x 10 -5 mbar (3.8 x 10 -5 Torr) 的测量精度。
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DelsaNano CZeta电位薄膜Zeta电位分布分析仪 固体及薄膜表面Zeta电位分析仪
贝克曼库尔特Zeta电位DelsaNano C参考多项行业标准。完成固体及薄膜的检测。可以用在纺织/印染行业领域中的Zeta电位分析项目。 贝克曼库尔特公司的 固体及薄膜表面Zeta电位分析仪，型号
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DelsaNano C薄膜Zeta电位分布分析仪贝克曼库尔特 固体及薄膜表面Zeta电位分析仪
贝克曼库尔特Zeta电位DelsaNano C用于测定材料表面，符合行业标准。适用固体（或薄膜）与液体之介面Zeta电位项目。 贝克曼库尔特公司的 固体及薄膜表面Zeta电位分析仪，型号
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东京理化MF-1000薄膜蒸发仪 小型薄膜蒸发仪型彩页
点击查看下载东京理化MF-1000薄膜蒸发仪 小型薄膜蒸发仪型彩页相关资料，进一步了解产品。 薄膜蒸发仪MF-1000型号MF-1000旋转速度范围100-1200rpm蒸发能力Max.760mL
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