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求X射线荧光光谱法测定镁砂镁石及菱镁矿中主次成分的具体步骤,谢谢,求X射线荧光光谱法测定镁砂镁石及菱镁矿中主次成分的具体步骤,谢谢,你是采用压片法测试里面的元素含量 你是想知道里面的成分都有那些 还是想知道元素测试先后顺序 建议找中国知网找方法,建议熔片法!,镁、硅、铝、铁、钙,主要就这五项,注意烧失,因为菱镁矿是碳酸盐。,你用的XRF是什么机子?哪家的?
2014年08月28日发布人:adg
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[color=Sienna][size=4][font=楷体_GB2312]PCR 引物设计及软件使用技巧 [转自 丁香园论坛]
PCR 引物设计及软件使用技巧
张新宇,朱有康,高燕宁
(中国协和医科大学中国医学
2011年08月20日发布人:微笑的海豚
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大家一起交流一下。
[attach]4831[/attach],[attach]4832[/attach],[attach]4833[/attach],还漏了一个,HAADF/STEM中的原子序数衬度。,这是好内容!!!,为什么DF
2010年11月11日发布人:goodgood
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近在用碳纳米管阵列抽滤做薄膜,遇到个难题:现在实验室制备的碳纳米管阵列在1.5mm左右,但是从1cm*1cm的硅片上刮下来放在电子天平上称量都没有反应,太轻了, 一些刮下来的小块体积放进烧杯里都能飘出来:tiger15:
所以无法精确
2015年05月12日发布人:xgy412
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有个问题请教各位,我有一组样品,由外至内,镀有Au-Ni-Cu的三层镀层,目前我想测试最外层Au层的纯度:
1、样品我有两种规格的,主要是Au层厚度的区别,一种样品是2um厚度的金层,另外一种样品的Au层只有20nm。
2、Au的纯度
2015年03月01日发布人:jiushi
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XRD对于薄膜样品的仪器,叫GID,掠入射小角X射线衍射。
需用专门的仪器。,掠入射角一般在0.5到1°之间,根据膜的厚度来调节角度,膜厚角度可以适当大点,其实用普通模式也可以的,估计你的问题是薄膜没有对准到光路中,对准后我们几十纳米的薄膜也能测试出来的,看薄膜是什
2016年04月10日发布人:nmn
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[color=DarkOrchid][size=5][font=楷体_GB2312][b]引物设计重点考虑因素、设计技巧及引物设计软件推荐 【转自 丁香园论坛】[/b][/font][/size][/color]
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2011年08月12日发布人:嗡嗡
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稳定性怎么样,最近我们的3500,基线老是漂移,找不到原因,基线漂移跟气有没有关系?,石墨炉测铝真心不好做,高温元素,也易污染,做了很多才试过一次能做到三个九,很多时候0.995都打不到。可以的话用铬天青S分光法吧,比石墨炉稍好。,你用的石墨管是进口还是国产的啊,用石墨法测定铝是不太容易做好的,铝的原子化温度比较高,
2016年02月21日发布人:ass
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]薄膜包衣不去包衣,研细是可以混匀的。[/size][/color],[size=2]
那请问楼上老师怎么才能完全研细呢[/size],[color=Black][size=2]我以前在药检所做过三年的检验,薄膜衣片也做过不少,没有遇见
2011年11月24日发布人:孢子11
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由电沉积的方法得到了金属镀层,想通过各种手段分析镀层的成份,镀层的表面性状,物理化学性能的测试,镀层的厚度,镀层组成晶粒的大小,晶粒晶型等相关信息的测试,希望各位老师、同学给点建议和指点。
希望能够尽量具体点,所说方法对应的测试
2015年07月07日发布人:青青草