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气相色谱仪分析液氧中乙炔含量的分析方法
的共识: 严格控制液氧中乙炔的含量, 防止空分设备因微量乙炔的冷却积累而发生爆炸事故是空分装置安全生产的保证。目前国内乙烯厂都已建立了空分安全监测系统, 有一部分已采用了较为先进的气相色谱法
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Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用
Amptek FAST SDD™ C2 窗口针对SEM应用开发x - 123 sdd与c2窗口应用SEM EDS图1,X -123快速SDD™C2窗口光谱仪结合真空装置Amptek推出全新SDD
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多晶硅和单晶硅标准太阳能电池
规格参数尺寸和外观测试条件光伏材料单晶硅/多晶硅光谱AM1.5光伏器件尺寸20mm x 20mm标定温度25oC窗口材料空间抗辐照盖片标定辐照度1000 W/m2外围材料空间抗辐照盖片波长范围
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HBD5-VOC手持式有机气体检测仪
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pgm50 pgm54 PGM-50/PGM-54 含VOC的复合式五气体检测仪
仪器简介: 原子荧光光谱仪 pgm50 pgm54 PGM-50/PGM-54复合式五气体检测仪(可配CO2/20070807/74.html'>CO2,PID
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2429600-CN硅试剂
量程二氧化硅二氧化硅8185 1-100mg/L SiO₂;二氧化硅10098 超高量程 0-200mg/L-1-100mg/L,SiO267750025500sc标准1硅,2L二氧化硅硅钼酸盐/杂多
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硅基底石墨烯膜
产品名称硅基底石墨烯膜硅片厚度700um硅片表面氧化硅厚度300nm硅片表面石墨烯光学形貌 硅片表面石墨烯Raman 光谱 硅基底名称规格方阻(□/sq) 备注单层石墨烯膜1cm
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2230XP硅表
重复性读数的±2%或±0.5ppb(0-300ppb);读数的±5%(300-5000ppb)。取大者检测限0.5ppb方法在810nm处测量吸光度运行条件运行温度0-45℃最大湿度40℃时90%水样
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硅表标液2035902
美国HACH公司波利梅特龙Polymetron电力仪表常用配件:Polymetron 9610sc在线硅表硅表试剂2035600-CNR1硅表试剂2035702-CNR2硅表试剂
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Entech硅涂层采样罐
流量范围0.12ml/min-400ml/min最高流量和阻力下运行时间10min-2h最大流量和阻力下使用寿命≥5000h流量稳定性24h≤±1%流量计精度±1.5%技术参数:· 采用先进的
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