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Depth Profile analysis of organic and organic/inorganic multilayered materials by pulsed RF GDOES
模式是新、先进且灵活的分析模式,它适用于所有材料。UFS专利技术可对聚合物分子层进行超快速溅射,不仅增强了信噪比而且能够在超高深度分辨率下测试包埋在厚聚合物下的镀层。
来源:HORIBA科学仪器事业部 应用
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广东省质量监督有色金属产品检验站
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中国有色金属工业华南产品质量监督检验中心
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APERA PC60F-Z智能蓝牙pH/电导率仪
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JEOL透射电镜相位板最新技术进展
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QG系列之新品介绍AUTO12S和AUTO24S
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使用新型均相Fura-2试剂盒进行钙流检测实验-Molecular Devices Fura-2
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