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ChemFIA CAS-400 自动进样器
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IEC 60664-1爬电距离测试卡
爬电距离测试卡是根据GB/T 16935.1-2008,IEC 60664-1:2007标准设计制造,主要用于检验电器产品等电器附件的爬电距离和电气间隙。名词解释: 1、安全距离包括电气间隙
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NH20-48*46-22
产品名称:NH20-48*46-22产品简介:抗静电ABS材料,最高耐温70摄氏度产品尺寸: 格子尺寸(mil):L48*W46*D22 格子尺寸(mm
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机械杂质测定仪
主要技术指标1) 采用方法:GB/T 511-2010《石油和石油产品及添加剂机械杂质测定法》;2) 显 示:4.3寸液晶显示(LCD),分辨率480×272 ;3) 控温
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机械杂质测定仪
:≤85%u 电源电压:220±5% V.ACu 电源频率:50±1% Hzu 消耗功率:800Wu 温控设置:独立温度控制u 仪器重量:30Kg 新型的检测机械杂质的测定仪,高精度恒温装置,黑灰色
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1Morphious V1 (MP-V1)颗粒与形状分布检测系统是世界领先的实时检测颗粒形态的仪器系统
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1产品概述 粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机)是专为塑料聚合物工业开发的,也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模
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illumina iSeq 100测序系统
iSeq 100 系统规格参数 规格仪器配置 对于耗材的射频识别跟踪技术(RFID)仪器控制计算机(内部)a主机:Celeron
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illumina HiScan芯片扫描仪
表 1:HiScan Reader 的性能参数表 2:HiScan Reader 的芯片扫描时间表 3:HiScanSQ 测序应用的范例表 4:HiScanSQ 的测序性能参数 为高密度的
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Illumina Hiseq 2500/1500 测序仪
高产出运行模式*试剂盒参数HiSeq SBS V4读长1 × 36 bp2 × 50 bp2 × 100 bp2 × 125 bp双流动槽128–144 Gb360–400 Gb720–800
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