-
日立MAXXI / X-Strata 系列微焦斑 XRF 光谱仪
多达6个主滤波器和8个准直器,能够处理最具挑战性的应用。巨大的开槽室设计是小、大或长样本的理想选择。优化的硬件配置可以直接分析化学镀镍应用中的%P。 X-Strata920 可被配置为三个不同的样品台
-
手持式通用镀层测厚仪 - CMI250
日立分析仪器CMI250手持式镀层测厚仪是一款灵便易用的仪器,它集精确、价格合理、 质量可靠等优势于一体,专为金属表面处理者设计。它适用于多种配置,可测量有色金属底材上的非导电涂层和钢铁底材上的
-
日立Lab-X / X-Supreme 系列台式光谱仪
-
台式微聚焦XRF镀层测厚仪 - PCB/半导体/电子行业应用
。我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术,该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析,可分析固体和液体,元素范围包括从元素周期表中的13Al到
-
日立Foundry-Master Xpert 直读光谱仪
同类产品中有着最低的运转成本,并且可轻松清洁工作表面。可分析大多数金属及其合金。多种元素很低的检测限。具备 130 至 780 纳米的最宽光谱范围,涵盖几乎所有感兴趣的元素,包括钢中的氮元素。由于采用
-
带温度补偿功能的面铜测厚仪 - CMI165
日立分析仪器CMI95M是一款为测试铜箔厚度设计的电池供电的手持式测厚仪,它能够在一秒钟之内测量印刷电路板上的铜箔厚度,范围从1/8到4.0盎司/平方英尺(5-140微米) 日立分析仪器
-
1stGuard-1064拉曼光谱仪
-
牛津X-Supreme8000 台式X射线荧光光谱仪
- 对于铜、铬及其他许多成分用液体和粉末来检测同样简单 矿物 - 铝土矿、石灰岩、高岭土等 采矿 - 镍、铅、锌等 化妆品 - 钛、锆等 石油和油品 - 油品中的硫;燃油中的镍、钒, 汽油中的铅,等等
-
PCB专用铜厚测试仪 - CMI760
可适用于测量孔内镀铜厚度和表面铜-CMI760 日立分析仪器CMI760一款可用于测量孔内镀铜厚度和表面铜的台式PCB专用铜厚测量仪 日立分析仪器CMI760台式测厚仪拥有非常高的多功能性,它集
-
油漆&粉末测厚仪 - CMI157
日立分析仪器CMI157油漆&粉末仪器是专为广大涂层专业人士设计的手持仪器,能对金属基底油漆、清漆及其他保护性涂层进行快速的检测。 日立分析仪器CMI157独有的双重技术(磁感应及电涡流)自动
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net