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[size=2][color=DarkRed][font=黑体]标签:拉曼 标准参考物质 波长 中国药典
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中国药典提到:激光波长必须被校正以确保拉曼位移的准确性。可以使用仪器公司提供的拉曼位移标准
2014年09月09日发布人:土豆potato
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气相色谱柱壁厚与膜厚度对检测的影响,应该怎样选择壁厚与膜厚度,你说的这些条件归根结底影响的都是分离,一般都是按常规的使用,再说了常用柱子规格也就哪几种,除非是很特殊特殊的分析,不然常见规格的柱子足以满足你的分析。,是否可以这样说,在
2011年08月10日发布人:bhnchnuo
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距离有关吧,不知是否准确,看一下说明书, 里面应该有个线形图, 可根据时间和电流来决定膜厚,日立工程师胡扯,大该在3-4nm,电流越大,溅射下来的金颗粒越大,在同样的时间下就越厚。,时间长厚;
电流大,PT的颗粒大;
一般超过5nm你怎么分析啊?,和你的电压电流以及时
2009年10月29日发布人:风大
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最近做了两批GBW10047胡萝卜标准物质,用微波消解,测其中铅、镉。标准物质使用前80度烘4个小时。
第一批消化:称样0.5g左右,加7ml硝酸和1ml双氧水,用微波消解。程序为室温升温到200度用10分钟,在200度保持10分钟
2014年07月20日发布人:jiankufanhan
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掠入射就是用一个很小的入射角来测试吗?那个角一般是多少比较合适呢 [/quote]
是XRD对于薄膜样品的仪器,叫GID,掠入射小角X射线衍射。
需用专门的仪器。,掠入射角一般在0.5到1°之间,根据膜的厚度来调节角度,膜厚角度可以适
2010年12月02日发布人:No.1
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滴定的方法。。,请教这位朋友:二氧化硅怎么滴定?用什么物质滴定?指示剂是什么?能否有比较具体的方法介绍一下嘛?,若某个试样中二氧化硅的含量在98%以上,应用氢氟酸挥发重量差减法(即挥散法)来测定SiO2含量。具体测定步骤如下:
将铂坩埚中
2013年05月17日发布人:化小样
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波长色散XRF可以测量薄膜的厚度,其中的原理是什么呢?
再有我测试的为ZnO薄膜,选择薄膜元素为Zn、O测试时,测出的膜厚为150微米,而薄膜的实际厚度仅为几百纳米。去掉氧计算时,厚度反而正常了。,这个问题顶上来让大家分析一下。我也
2014年08月29日发布人:艰苦奋斗
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波长色散XRF可以测量薄膜的厚度,其中的原理是什么呢?
再有我测试的为ZnO薄膜,选择薄膜元素为Zn、O测试时,测出的膜厚为150微米,而薄膜的实际厚度仅为几百纳米。去掉氧计算时,厚度反而正常了。,这个问题顶上来让大家分析一下。我也
2015年02月01日发布人:teddy
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我一直用millipore的PVDF膜做Western的预实验,可是无论湿转还是半干转,markre总是转的不好,很容易转膜过度。而且不稳定,有时一个小时转的还可
2014年07月05日发布人:shkudo
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不同的测厚设备有不同的原理, X荧光测膜厚的原理是什么呢? 能简单说说吗?,XRF测量金属薄膜厚度的原理是利用X射线的能量激发样品中的金属元素使它产生特征X射线荧光,通过检测器检测到荧光的强度来计算金属镀层的厚度。具有非破坏,快速简便的
2015年02月01日发布人:vbnm