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ICP-MSiCAP™ TQ赛默飞 可检测二氧化硅纳米
赛默飞ICP-MSiCAP™ TQ可以用在纺织/印染行业领域,用来检测二氧化硅纳米 颗粒,可完成进行单纳米颗粒样品检测项目。符合多项行业标准纳米颗粒材料被越来越广泛的应用于衣食住行等各领域 内,由此
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安东帕孔径分析仪POROMETER 3G 应用于生物质材料
点击查看下载安东帕孔径分析仪POROMETER 3G 应用于生物质材料相关资料,进一步了解产品。 康塔仪器产品综合样本: 根据毛细管渗透法,利用Washburn方程测定薄膜孔径及渗透率。材料
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125μm聚酯薄膜气体透过量标准膜
【标准物质种类】 气体透过量标准物质: 125μm聚酯薄膜气体透过量标准物质 GBW(E)130541300μm聚酯薄膜气体透过量标准物质 GBW(E)130542水汽
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日本KETT 电磁膜厚计 デルタスコープFMP30
日本KETT 电磁膜厚计 デルタスコープFMP30技术参数表:仕様 デルタスコープFMP30測定方式 電磁誘導式測定対象 磁性金属測定範囲・精度 プローブにより異なり
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安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构
点击查看下载安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 介孔薄膜– 使用GISAXS研究多层薄膜的结构相关资料,进一步了解产品。 目前,在未来能量转换和存储体系中,对介孔材料薄膜进行了广泛的研究
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深圳膜厚仪
深圳膜厚仪主要性能优势:采用极速探测器技术分辩率zui低至125eV探测信噪比更强,检出限更低采用大功率X光管及先进的数字多道技术光闸系统,提高测试效率与测试精度精密的定位
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牛津膜厚仪
薄膜型标准片(Foil ): Sn200"一片 薄膜型标准片(Foil ): Cu 80"一片 无限厚标准片(Infinite): Au,Ni,Cu,Sn,Zn各一片
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光学膜厚仪
、色度 波长范围:380-1000nm 膜厚精度:1nm 厚度范围:300-400,000 Angstrom (依样品不同而异) 检测速度:1-3 sec 检测平台:10cm
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孔径分析仪安东帕气体渗透法孔径分析仪 适用于比表面积
也是ASTM(美国材料试验学会)薄膜测定的标准方法。 Porometer 3G系列新产品具有高精度、高分辨率,重现性优于0.5%,测试动态范围广(0.02~500微米),适用于各种膜材料测试
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POROMETER 3G安东帕气体渗透法孔径分析仪 应用于其他食品
也是ASTM(美国材料试验学会)薄膜测定的标准方法。 Porometer 3G系列新产品具有高精度、高分辨率,重现性优于0.5%,测试动态范围广(0.02~500微米),适用于各种膜材料测试,遵循
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