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聚苯乙烯薄膜 polystyrene calibration film,用于FTIR
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介孔二氧化硅比表面积、总孔容及孔径标准物质
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A0803565 多层膜膜厚(GaAs/AlAs超晶格)标准物质 CAS号99-50-3
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介孔二氧化硅比表面积、总孔容及孔径标准物质
使用注意事项:本标准物质在分析测量前应进行前处理,即200℃下真空脱气至少5小时、并缓慢冷却至室温后再使用。样品不能重复使用
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二氧化硅,7631-86-9,纳米粉末,规格表面积175-225 m²/g(BET),99.8% trace metals basis
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A9903112 二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质 CAS号99-29-6
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A0404789 二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质 CAS号99-30-9
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介孔二氧化硅比表面积、总孔容及孔径标准物质 GBW13910
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介孔二氧化硅比表面积、总孔容及孔径标准物质 GBW13909
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通用膜盘式过滤器
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