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AA-DD扫描自相关仪
一、扫描自相关仪AA-DD AA-DD扫描自相关仪规格参数 技术参数: 型号AA-20DDAA-10DD-12PSAA-10DD-30PS波长范围*450-3200nm各探测器波长
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Avesta EFOA-SH光纤激光器
EFOA-SHEFOA-SH-HPPulse Width (FWHM) at 780 nm260 mW at 1560 nm>200 mW at 780 nm>440 mW at 1560
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Avesta EFOA-SH-UB型 多波长激光器
EFOA-SH-UB型 多波长激光器技术参数:型号EFOA-SH-UB1560 nm 输出中心波长(固定):1560±10 nm脉冲宽度: 150 mW脉冲重复频率(固定):70±5 MHz偏振
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机械杂质测定仪
主要技术指标1) 采用方法:GB/T 511-2010《石油和石油产品及添加剂机械杂质测定法》;2) 显 示:4.3寸液晶显示(LCD),分辨率480×272 ;3) 控温
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机械杂质测定仪
:≤85%u 电源电压:220±5% V.ACu 电源频率:50±1% Hzu 消耗功率:800Wu 温控设置:独立温度控制u 仪器重量:30Kg 新型的检测机械杂质的测定仪,高精度恒温装置,黑灰色
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1Morphious V1 (MP-V1)颗粒与形状分布检测系统是世界领先的实时检测颗粒形态的仪器系统
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1产品概述 粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机)是专为塑料聚合物工业开发的,也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模
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变比电桥QJ35_QJ35B_QJ35-1
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FLUKO弗鲁克F6/10手持式超细匀浆机
、8GZL-1、10GZL-1 手持式操作设计,最小处理量可至0.1ml,广泛适用于生物医药、检验检疫领域使用。 上海弗鲁克F6/10系列手持式匀浆机,超细匀浆机(组织破碎、组织匀浆机)设备简介
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阿贝折射仪
仪器简介:测定液体或固体的折射率和糖水溶液中干固物的质量分数即锤度Brix,可以用于制糖、制药、饮料、石油、食品、化工工业生产、科研、教育部门的检测分析。技术参数:折射率nD
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