-
X荧光镀层测厚仪 天瑞仪器Thick 600 可检测废气
盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便。 性能特点 长效稳定X铜光管 半导体硅片电
-
Thick 600X荧光镀层测厚仪 天瑞仪器 可检测废渣
。 Think600镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便。 性能特点 长效
-
X荧光镀层测厚仪 天瑞仪器能散型XRF 应用于电子/半导体
。 Think600镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便。 性能特点 长效
-
测汞迈尔斯通直接测汞仪 可检测疫苗
迈尔斯通直接测汞仪DMA-80 evo适用于硫柳汞测定项目,参考多项行业标准 3115硫柳汞测定法。可以检测疫苗等样品。可应用于化学药行业领域。 硫柳汞又名乙基汞硫代水杨酸钠,是一种含汞有机化合
-
Thick 600X荧光镀层测厚仪 天瑞仪器 电镀行业综合
。 Think600镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便。 性能特点
-
Thick 600天瑞仪器X荧光镀层测厚仪 适用于分析电镀产生的废气、废水、废渣
。 Think600镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便。 性能特点
-
X荧光镀层测厚仪 Thick 600
。 Think600镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便
-
X荧光镀层测厚仪 X射线荧光测厚天瑞仪器 电镀行业综合
仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。 性能特点 满足各种不同厚度样品以及
-
优可测点光谱位移传感器-厚度测量
优可测点光谱位移传感器-厚度测量,拥有超大角度特性,不受材质影响,可达2nm分辨率的超高精度测量,可测涂布厚度、薄膜厚度、弧度、翘曲量、轴跳动等。
-
直接测汞仪迈尔斯通测汞 可检测MAX-L)
迈尔斯通测汞DMA-80 evo可以用在多个行业领域,用来检测(DMA-80、MAX-L),可完成汞作为有毒重金属之一,其毒性排列在首位。项目。符合多项行业标准。 v> 汞作为有毒重金属之一,其毒性
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net