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机械杂质测定仪
1、 执行国家标准GB/T511-2010。广泛适用于石油、化工、冶金、电力、交通、商检及科研等部门。2、 核心主机采用TI 公司AM3354处理器,Cortex-A8内核,1GHz主频
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1Morphious V1 (MP-V1)颗粒与形状分布检测系统是世界领先的实时检测颗粒形态的仪器系统
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颗粒、杂质扫描分析系统
颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1产品概述 粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机)是专为塑料聚合物工业开发的,也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模
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安东帕SVM1001便携式运动黏度计
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铜箔测厚仪 - CMI95M
日立分析仪器CMI95M是一款为测试铜箔厚度设计的电池供电的手持式测厚仪,它能够在一秒钟之内测量印刷电路板上的铜箔厚度,范围从1/8到4.0盎司/平方英尺(5-140微米)。 日立分析仪器
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IS-95 间隔采样器
IS-95间隔采样器技术规格: 试管数量:174个12或13mm试管 116个10-16mm试管 116个18mm试管或小瓶 42个28mm试管或小瓶采集设置:6s至999min59s,以1s
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美国OFI 153-59活度计(湿度计)
)值。探头或Hygrostick(#153-59-3)可轻易更换,不需要定期的重新校正。然而,校正需用可靠的参比溶液定期的核对。 规格参数:尺寸:20×10×4cm重量:0.2kg温度范围:0~50
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真实信号列控仿真系统SR3000-ATC
、车辆仿真系统、计轴系统和应答器系统,用以实现信号和列控系统的完整教学、实训。 【简单介绍】 仿真系统建设一套1:2的实物轨道线路,配有信号机、转辙机、应答器、轨道电路等轨旁设备
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TES-1304列表式温度计
规格显示器4 1/2位液晶显示测量范围Type K: -200~1333℃ (-328~2431℉)Type J : -200~760℃ (-328~1400℉)Type E: -200
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XY系列向列液晶空间光调制器
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