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NT-MDT多功能自动化AFM-Raman-TERS和SNOM系统
NTEGRA Spectra II多功能自动化的AFM-Raman-TERS和SNOM系统主要特点:o 多功能高性能原子力显微镜o 可从顶部,侧面和底部引入光路进行近场光学、拉曼和
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NT-MDT 开尔文探针显微镜
技术参数:在大气环境下:扫描隧道显微镜/ 原子力显微镜(接触 +半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文探针显微镜
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Solver Next全自动扫描探针显微镜
测量模式: STM/ AFM (接触 + 轻敲+非接触)/ 横向力/ 相位/ 力调制/力谱/粘附力/ 磁力/静电力/ 开尔文/ 扩展电阻/纳米压痕/纳米刻蚀: AFM (电压刻蚀
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Solver Next 多功能全自动扫描探针显微镜
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原子力声学显微镜AFAM
在常规AFM中,当扫描材料表面时,悬臂(cantilever)振动,样品和仪器顶端产生力。而在AFAM 中,一个声学调制器被放在样品的下面,产生垂直和水平的振动。系统利用悬臂产生的屈曲和扭转
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教学型原子力显微镜
主要用于化学、材料科学(纳米材料、高分子、聚合物、半导体等)、生命科学以及相关领域的研究工作,对各种材料、化工产品、生物制品、非金属矿及深加工产品等进行观测,并对其表面形貌进行分析。 仪器由
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NT-MDT 原子力显微镜
技术参数:在大气环境下:扫描隧道显微镜/ 原子力显微镜(接触 +半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文
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Solver P47-Pro扫描探针显微镜
技术参数: 测量模式: STM/ AFM (接触 + 轻敲+非接触)/ 横向力/ 相位/ 力调制/力谱/粘附力/ 磁力/ 静电力/ 开尔文/ 扩展电阻/纳米压痕/纳米刻蚀: AFM (电压
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原子力-拉曼光谱联用系统
仪器简介:NTEGRA Spectra 是一款独特的集成了扫描探针显微镜、激光共聚焦/荧光显微镜和拉曼光谱仪的系统。其强大的TERS效应,可在得到拉曼光谱的同时获得高达50nm的成像分辨率。只有
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NT-MDT Ntegra Platform 原子力显微镜(AFM)平台
技术参数:在大气环境下:扫描隧道显微镜/ 原子力显微镜(接触 +半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文探针显微镜
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