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测量;3. 粘附,对于特少的样品也可以考虑粘附在样品架表面,但是有可能污染样品仓和支架,要做好清洁。但是对于微量样品,不失为一种无奈的选择。4. 水平台光纤探头的垂直测量,但是考虑光纤的能量损失会导致分辨率的损失。透射测量,对于实际使用激发
2016年04月09日发布人:vbnm
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如题,我想把图片1中的下面的放大倍数等信息去掉,变成像图片2中只有标尺的形式加标注序号a用于SCI论文写作中,并且用Photoshop处理这样的图片,要求分辨率为300ppi,并保存成tif格式。哪位知道具体该怎么做,麻烦给说一下用
2014年12月26日发布人:双子座
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1、电子显微镜和X射线衍射仪的区别及优缺点。
2、透射电子显微镜中,选区衍射和会聚束电子衍射的区别和优缺点。,电子显微镜看晶体形状,X射线衍射仪测结构,1、电子显微镜和X射线衍射仪的区别及优缺点。
电子显微镜看到是微观信息,X射线衍射
2016年03月22日发布人:mimima
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一般做能谱时,取回的数据是已经分析好的图谱、元素浓度比例结果,可是因为能谱仪能量分辨率低,经常遇到峰位重叠的情形,比如Si Ka1 (1.740KeV)与Ta M(1.710KeV),在谱线上根本分不出来,之前在沈阳开会时问到UCLA
2015年03月06日发布人:zouyou
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【资料】关于近红外的一些信息,作为近红外操作和研究人员,本文论述的几个问题需要仔细研究,对于选择一个近红外操作系统和建立检测模型很有意义。,疯子帮顶下
嘿嘿
现在接触红外少,以前在学校接触的多,太好了 谢谢楼主 这正是
2015年05月21日发布人:风往尘香
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XRD看晶体内部的信息对不?
拉曼更适合看晶体表面的信息对不?,xrd特征峰可以看相结构的吧,我们用XRD,拉曼是什么就不是很了解了,测单晶的话首先扫参可以得到晶体内部单元的参数,键长键角体积等数据。如果数据好可以进一步收数据,有了这个
2016年05月02日发布人:双子座
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;在背散射模式下与样品该位置处的平均原子序数有关。
你照片上没提供模式的信息。。。,取样的时候问了下老师,老师告诉我说低于百分之一就测不准了
仪器的分辨率为1.0nm(15kV) 2.0nm(1kV) 1.4nm(1kV);
加速电压
2016年03月29日发布人:886爱
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原子序数有关。
你照片上没提供模式的信息。。。,取样的时候问了下老师,老师告诉我说低于百分之一就测不准了
仪器的分辨率为1.0nm(15kV) 2.0nm(1kV) 1.4nm(1kV);
加速电压0.5-30kV,0.1kV起步
2015年04月08日发布人:女儿情
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检测背散射电子时,会同时出现原子序数忖度像和形貌寸度像,将其分离时用到2个检测器,这2个检测器对原子序数信息产生的背散射电子信息相同,而对形貌信息互补。
那么这2个检测器各自工作原理是什么?有什么差别?为什么对形貌信息
2015年12月15日发布人:今生如此
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不是很理解为什么一般的tem分辨率都要比sem高
sem的原理应该是把电子束先聚焦成很小的斑然后去扫面样品,应该可以把电子聚得很小啊,而且其分辨率是直接由这个斑的大小决定的吧,怎么分辨率还是不如一般的tem高呢,SEM与TEM的加速电压
2015年05月07日发布人:大学习