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通讯终端装备六性分析
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FAKRA、HSD连接器信号完整性测试
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5G大规模集成电路芯片失效分析
广电计量拥有业界领先的专家团队及先进的失效分析设备,对大规模集成电路可提供无损分析、电特性/电性定位分析、破坏性分析、微观显微分析等失效分析测试。服务范围大规模集成电路芯片检测项目(1)无损分析
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系统电磁环境效应评价与分析
源产生的电磁辐射场,不仅可对电路和仪器造成干扰或损伤,而且对微电子系统和国防设施亦构成了一定的威胁.国内外研究动态和电磁脉冲参数,作用机理以及实验研究表明:电磁环境中各种形式的电磁脉冲,辐射等对单片机
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无线电计量
测试仪35话路特性分析仪68电波暗室/电磁屏蔽室3示波器校准仪36频率特性测试仪69混响室4模拟示波器37功率指示器70横电波暗室5网络分析仪和校准件38高速串行误码仪71集成电路静电放电敏感度测试
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热学计量
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电子元器件筛选
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产品设计优化和改进提升服务
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轨道交通电子元器件失效分析
手段。服务范围IGBT、IC集成电路、微机电器件检测标准GJB548微电子器件试验方法和程序检测项目(1)常见检测项⽬:3DX 射线检查、声学扫描检查、开封、IC 取芯片、芯片去层、衬底检查、扫描电镜
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功能安全测试
实验室简介针对具有保护功能的电气电子产品及其控制器,依据相关标准,采用静态分析和动态测试相结合的方式,评价控制器电路及软件功能和结构的充分性、合理性、正确性、可靠性,从而保障电气电子产品使用者及环境
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