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连续式四探针片电阻及光学膜厚测量设备
连续式四探针片电阻及光学膜厚测量设备设计, 片电阻不受针尖距离影响多种型号以供选择: 自动上下片(Cassette to cassette, C2C) 室温至100°C 的测量(更高可选)可添加并
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晶圆四探针电阻率计FPMIL-FPP-5000
层厚度从20A 到243KA 这款晶圆自动四探针电阻率计是四点探针型的半导体晶圆和电阻薄膜的电阻率特性测量仪器。 这款晶圆自动四探针电阻率计是四点探针型的半导体晶圆和电阻薄膜的电阻率特性
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KDK-KDY-1 四探针电阻率测试仪
监测全程的电流变化,免除了测量电流/测量电阻率的转换,更及时掌控测量电流。 1:四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/方阻测试仪/方阻仪/四探针电阻率测定仪 型号:KDK-KDY-1 四
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美国RHK 扫描探针控制单元R9 Plus
功能模式集中到一起,通过软件即可快捷的对硬件系统进行重新定义。无需外界模块和设备可实现包括STM、dI/dV隧道谱、接触式&非接触式AFM、导电AFM、开尔文探针显微镜KFM、SNOM等功能。兼容所有
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低温扫描探针显微镜
价格电议LT-SPM 低温扫描探针显微镜 上海伯东代理英国 NanoMagnetics LT-SPM 低温扫描探针显微镜, 扫描探针显微镜在低温下的应用比在环境或高温下的应用更为广泛
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Park Systems帕克电化学原子力显微镜NX12
能:磁力显微镜(MFM), 可调外加磁场MFM热性能:扫描热显微镜(SThM)电性能:导电AFM(CP-AFM), Pinpoint™ 导电AFM, I-V谱线, 扫描开尔文探针显微镜(SKPM
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FT-343 四探针方阻 电阻率测试仪
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美国RHK-R9扫描探针显微镜控制器
优异的功能 将所有SPM的功能模式集中到一起,通过软件即可快捷的对硬件系统进行重新定义。无需外界模块和设备可实现包括STM、dI/dV隧道谱、接触式&非接触式AFM、导电AFM、开尔文探针显微镜KFM
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多功能原子力显微镜
扫描器在全范围内的平均线性度误差小于0.1%, 属于AFM市场上的顶配. Z轴由压电驱动, 带有位置传感器可以实现闭环操作. 高敏感的悬臂梁探测系统可以测量到MHz测量范围. Flex-Axiom的
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FT-347系列四探针电阻率/方阻测试仪
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