-
JW-04 动态比表面快速测定仪
:比表面积≤± 1.0%;测试效率:平均每个样品5min,测试结果由软件自动实时得出;分析站:4个;P0位:--;升降系统:4个样品位原位设有4套独立的升降系统,电动控制、自动控制,且互不干扰;真空
-
JW-D900 比表面积仪
(99.999%)+高纯氦气(99.999%)混合气体; 测试范围: 比表面积0.01(m2/g)--至无上限; 重复精度: 比表面积≤± 1.0%; 测试效率: 平均每个样品5min,测试结果
-
科研型陶粒专用比表面分析仪 JW-BK200C
结果准确性、精确性、稳定性完全达到进口同类仪器水平,性价比极高,非常适合活性炭、活性氧化铝、分子筛、沸石、MOF材料等超微孔纳米粉体材料的研究。 微孔bet比表面积分析仪性能参数:仪器型号
-
精微高博 比表面测试仪
Flow control: automatic control program, P / Po 0.05 - 0.35, control accuracy error ≤ 0.5
-
JW-STSA1炭黑外表面积测试仪
原理方法: 低温氮吸附、静态容量法 测试功能: BET比表面(单点、多点),Langmuir比表面,外表面测定 等温吸脱附曲线测定,BJH介孔和大孔孔径分析 t-Plot法、DR法
-
CMP CE-MS离子源
品牌: CMP质谱科技公司型号: EMASS II 本产品具有稳定性好、电喷效率高,适配性强,灵敏度高等优势。 EMASS II型CE-MS离子源产品性能
-
比表面积及微孔孔径分布测试仪
分子泵”及1torr小量程压力传感器,配合微孔分析模型的准确应用,完全实现了微孔的精确分析,氮吸附微孔zei小孔径实际可测达0.35nm,测试结果准确性、精确性、稳定性完全达到进口同类仪器水平,性价比
-
JW-DA 动态智能型BET比表面测定仪
-
AMI-300 IR全自动程序升温化学吸附仪
性能参数 / Specification型号AMI-300 IR红外检测器多种规格的红外反应池典型样品0.1-1g工作站一个分析站温度范围室温-1200°C低温选件-130°C-1200°C升温
-
JW-SEL200 选择性气体吸附仪
JW-SEL200 选择性气体吸附仪的参数: 测试原理:气体物理吸附容量法、氮吸附法、DIH选择性吸附理论模型 测试功能:气体吸附等温线测定、吸附热测定、选择性吸附参数测定(DIH
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net