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卓立汉光红外光源
产品概述氮化硅红外光源(型号:LSSiN-40) 氮化硅红外光源包括光源室(LSH-SiN40)和直流稳压稳流电源(DH1720A-6)两部分。光源室成像光路主要参照我公司“谱王”系列光谱仪的
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样品室卓立汉光SAC
产品概述样品室是光电测量系统中不可或缺的组成部分,不同类型的样品需要搭配不同的样品室,才能获得更好的测试效果。卓立汉光根据多年的实践经验,设计了多种配套样品室供用户选择,并且可以根据客户的需求提供
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卓立汉光少子寿命成像测试仪SPM900系列
SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数,也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中,少子寿命决定了少子扩散长度, 决定了光吸收层
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卓立汉光PL光致发光光谱测量系统
仪器简介: PL光致发光光谱测量系统介绍 (电致发光) 光致发光(photoluminescence)即PL,是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光。PL荧光光谱测量系统是用
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卓立汉光其它光谱仪
透射、反射/吸收光谱测量系统系统采用卓立汉光专利技术(专利号:ZL201220078394.9一种宽光谱透射、反射测量装置)优化设计而成,满足建筑玻璃的标准测试需求,同时也能够应用于其它透明材料的透射
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卓立汉光OPTM 系列其它通用
OPTM系列显微分光膜厚仪头部集成了显微光谱法测量所需的功能,用于高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数)的测量,1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)区域,传感器的安全机制
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卓立汉光OPTM 系列其它通用
OPTM系列显微分光膜厚仪头部集成了薄膜厚度测量所需功能。通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数),1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)区域。传感器的安全机制
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卓立汉光其它光谱仪
。主要规格指标(@激发波长325nm)◆光谱范围:200-800nm◆相对波数范围:50-18000cm-1◆分辨率:3cm-1◆重复性:5cm-1◆一次成像范围:700cm-1
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卓立汉光XYR系列对位平台
交叉滚柱导轨和交叉滚子轴承导向,带驱动模组(3套)采用小导程滚珠丝杠驱动,标配步进电机,也可换装五相步进电机或伺服电机。对位平台可根据实际需要,在中心设计通光孔或无通孔,分别可实现透射、反射式的对位
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卓立汉光滤光片轮
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