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有机元素分析-O
分析仪方法通则 依据标准号:JY/T 017-1996 素分析仪方法通则 本项目是用元素分析仪来分析,元素分析仪作为一种实验室常规仪器,可同时对有机的固体、高挥发性和敏感性物质中C、H、N、S元素的
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天瑞EDX3600能量色散X荧光光谱仪
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博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪 O系列
92号铀元素50 W钼钯射线管 80um毛细管光学结构135eV及以上分辨率的硅漂移探测器5层(4层+基材) 每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素2位置一次过滤器固定焦距(0.1
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浪声手持式贵金属分析仪TrueX GOLD/TrueX GOLD+
电池2块单电池可持续工作8H左右,可直接查看电池剩余容量符合航空危险品运输条例重复性: 0.1%能量分辨率: 小于140eV分析含量范围: 1ppm-99.99%元素分析范围: Mg~U重量1.6Kg
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佳谱科技三元前驱体元素分析仪JPS300 三元前驱体 矿产分析 新能源锂电
、支持4G、5G远程数据传输。◆ 仪器有自动保护功能,当进样舱开启时,可自动断开。分析曲线图120g/L硫酸镍溶液基质中0-10mg/L的Ca元素拟合形成的标准曲线多元素应用JPS300满足高浓度硫酸
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普析xRF6C能量色散 X 射线荧光分析仪
为了满足现代企业管理和生产要求,必须对生产过程中的原材料的化学成分进行及时、准确的分析和控制,传统的化学分析方法已经不能完全满足生产过程的需要。目前众多新型冶炼企业为了达到良好的质量控制指标,大都
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非甲烷总烃在线分析仪(规格 115)
甲烷总烃的浓度。产品特点方法符合标准采用双柱双阀单FID法,系统流路设计简洁,方法与国标一致,具有标准可比的优点。全热法设计系统采用全热法设计,采样通道最高伴热至200℃,高浓度样品无残留,具有测量
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天瑞EDX3000 X荧光光谱仪
尺寸:260×360×78 mm重量:30Kg标准配置Si-Pin 探测器高压 5kv-50kv光管 50uA-1000uA信噪比增强器MCA单样品腔标准配置Si-PIN半导体探测器、数字多道分析系统
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台式
多功能X荧光光谱仪(痕量元素分析+ELV(ROSH)+镀层厚度测量 )应用于:•铅隔汞铬溴等有害元素痕量分析•焊料合金成分分析和镀层厚度测量•电子产品中金和钯镀层的厚度测量•五金电镀、CVD
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德国徕卡 溅射镀膜仪 Leica EM SCD005
EM SCD005也提供单碳丝/多碳丝蒸发镀膜,适用于X射线微区元素分析(EDX,WDX)时在样品表面镀导电碳膜,也适用于给带有火棉胶或formvar膜的铜网镀碳支持膜。 Leica EM
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