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CMI900|镀层测厚仪
CMI900镀层测厚仪技术参数:项目规格测量元素22(TI)-92(U)测量层数5层(4层镀层+基材层)X射线管功率50WX射线管靶材钨zei大可安装准直器数量6个外形尺寸305
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瑞士W+B动态疲劳试验机
的拉伸、压缩及弯曲测试。标准产品力值范围:0.5kN~3000kN,更高力值属于定制。高力值疲劳试验机目前世界范围内多家用户在使用W+B公司的10MN~30MN(3000吨)疲劳试验机。 LFV系列
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菲希尔XDLM-PCB系列 X射线荧光镀层测厚仪
精力。依靠FISCHER所采用的的完全基本参数法,可以在没有标准片校正的情况下分析固、液态样品及测量样品的镀层厚度。 FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是专为测量印制电路
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台式镀层测厚仪 - CMI730
适用于金属、油漆、粉末及涂料等行业的台式镀层测厚仪 - CMI730 日立分析仪器CMI730是一款简单易用的台式镀层测厚仪,它可适用于金属、油漆、粉末及涂料等行业,它集快速精确、价格
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通用镀层测厚仪 - CMI153
牛津CMI153手持式镀层测厚仪集测量快速精确、质量可靠。它适用于多种配置,可测量有色金属底材上的非导电涂层和钢铁底材上的非磁性涂层。 牛津CMI153手持式镀层测厚仪集测量快速精确、质量
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涂镀层测厚仪L170
技术参数:L170涂镀层测厚仪 漆膜测厚仪 薄膜测厚仪 膜厚仪技术指标: *测量原理:磁感应法 *测量范围:1~1250μm *测量准确度:±[(1~3)%H+1] μm(全量程校准
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日立FT100A镀层测厚仪
X-Strata和MAXXI系列产品 ,可以测量小的试片或连续带状样品,从而达到 引线框架(引线框架)、连接器插针、线材和端子的上、中和预镀层厚度的控制。IC 载板半导体器件越来越小巧而复杂,需要分析
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镀层测厚仪器 Ux-720
。 5. Ux-720镀层测厚仪采用了华唯zei新zl技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。 6. 样品移动
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iEDX-100T镀层测厚仪
×385mmiEDX-100T镀层测厚仪采用非真空样品腔;专业用于镀层厚度,金属电镀镀层分析;可增加合金成份分析及RoHS功能;应用于金属电镀镀层分析领域; iEDX-100T镀层测厚仪采用非真空样品
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日立FT150镀层测厚仪
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