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Cary 5000Agilent 紫外-可见-近红外分光光度计安捷伦 适用于反射率,表征镜面,薄膜的折光率,厚度
安捷伦紫外Cary 5000可用于测定样品(抗反射涂层、玻璃、建筑玻璃、油漆/涂层) ,适用于反射率,表征镜面,薄膜的折光率,厚度项目。并且参考多项行业标准。可应用于航空/航天行业领域。 Cary
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安东帕RST³大载荷划痕仪 用于测试膜厚度超过 1 μm 的硬质涂层的机械性能
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便携式厚度计
得乐数显厚度计TPD-617J,壁厚专用厚度计,可换测头。 产品规格:型号*小读值精度可换测量铁砧规格测量范围测定压力重量TPD-617J0.01±20φ0.5 φ1.0
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指针式厚度计
SM-125针盘式厚度计能够很容易*地测量金属、晶体、橡胶、塑料、纸、毛毡、毛发、真珠等厚度和直径的尺寸的测定器。 伸入深度为200mm的大型厚薄规型目量0.01mm测量范围20mm测定子、铁砧
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指针式厚度计
1.指针深度表除了能够测量作业的深度和段差也能够测量膜的厚度。2.测量范围可以从5mm到230mm(继足使用)。对应的作业大幅度扩张。3.能够对相对应的测定子、底座特别订货。4.也存在对于操作
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ATGX310系列_光学薄膜厚度测量仪
光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
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晶圆厚度Warp检测设备
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椭偏仪堀场HORIBAUVISEL 适用于厚度,光学常数
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定TFT和LTPSTFT-LCD显示器,符合行业标准0。适用厚度,光学常数项目。 技术参数: * 光谱
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白光干涉测厚薄膜厚度测量仪美商菲乐
F54-XY-200薄膜厚度测量仪是一种自动薄膜厚度测绘系统。它采用先进的光谱反射系统,能够快速、轻松地测量大200x200mm样品的薄膜厚度。配备电动XY工作台,可自动移动到选定的测量点,并提
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/Kratos X射线光电子能谱仪岛津AXIS SUPRA+ 岛津XPS技术表征石墨烯薄膜的厚度
岛津X光电子能谱XPSAXIS SUPRA+适用于厚度 项目,参考多项行业标准/ VBA。可以检测石墨烯薄膜 等样品。可应用于多个行业领域。 石墨烯在材料学、微纳加工、能源、生物医学和药物传递等方面
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