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赛默飞(原FEI)ELITE 系统
无损三维电气故障定位随着“超越摩尔定律”技术的普及,封装和组装相关缺陷变得越来越难以识别。互连更加精细、更加复杂;芯片和封装被堆叠并平铺为复杂结构。焊点间距更小,而基板则采用更高的图案和嵌入式组件
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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR(极高分辨率)SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及
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赛默飞(原FEI)Explorer 4 Analyzer
Thermo Scientific™ Explorer™ 4 Analyzer 是用于颗粒物分布统计过程控制的解决方案,帮助确定制造工艺是否受控、查找颗粒以及大批量颗粒表征。Explorer 4
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DR300 便携式铝 铝离子计DR300 铝离子哈希 DR300便携式比色计
点击查看下载DR300 便携式铝 铝离子计DR300 铝离子哈希 DR300便携式比色计相关资料,进一步了解产品。 哈希公司重新设计和升级了广受客户赞誉的便携式比色计PCII
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哈希DR300 便携式铝离子检测仪 铝离子计
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DR300 铝离子离子检测仪DR300 便携式铝 铝离子计 应用于环境水/废水
点击查看下载DR300 铝离子离子检测仪DR300 便携式铝 铝离子计 应用于环境水/废水相关资料,进一步了解产品。 哈希公司重新设计和升级了广受客户赞誉的便携式比色计PCII
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哈希DR3900铝离子分析仪 铝离子计 水质分析仪
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(原FEI) 透射电镜Verios XHR SEM 样本
点击查看下载(原FEI) 透射电镜Verios XHR SEM 样本相关资料,进一步了解产品。 观测敏感的生物样本时,过高的成像电压带来的电子束会损伤样本,从而无法在细胞研究中观测关键细节
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赛默飞iCAP PROICP-AES 可检测铝基体
赛默飞ICP-AESICP-OES可用于测定铝基体,适用于基体匹配法测试项目。并且参考多项行业标准。可应用于地矿/有色金属行业领域。 这款紧凑的台式 ICP-OES 可同时分析样品中的所有痕量元素
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iCE 3500赛默飞原子吸收 适用于铝
赛默飞原子吸收光谱仪iCE 3500可以用在粮油/豆制品行业领域,用来检测油条,可完成铝项目。符合多项行业标准。 Thermo Scientific iCE 3500原子吸收光谱仪有别于其他传统
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